硬化(hua)涂(tu)層膜厚(hou)儀是一款(kuan)快 速、準確測量薄膜(mo)表征應用(yong)的(de)模塊化解決方案(an)，要(yao)求(qiu)的(de)光斑(ban)尺(chi)寸小(xiao)到幾個微米，如微圖案(an)表面(mian)，粗(cu)糙表面(mian)及許多(duo)其他表面(mian)。它可以(yi)配備一臺計算機控(kong) 制的(de)XY工作臺，使(shi)其快 速、方便和(he)準確地(di)描繪樣(yang)品的(de)厚度和(he)光學(xue)特性圖。品牌屬于Thetametrisis。

Thetametrisis利用 FR-Mic，通過紫(zi)外(wai)/ 可(ke)(ke)見/ 近紅(hong)外(wai)可(ke)(ke)輕(qing)易對局部區域薄膜厚度(du)，厚度(du)映射，光(guang)學常(chang)數(shu)，反射率，折射率及(ji)消光(guang)系數(shu)進行測量。

【相關(guan)應用】

1.高校 & 研究所實(shi)驗(yan)室(shi)

2.半導體制(zhi)造

3.(氧化(hua)物/氮化(hua)物， 硅膜(mo), 光(guang)刻膠(jiao)及(ji)其(qi)他半(ban)導體薄(bo)膜(mo).)

4.MEMS 器件 (光(guang)刻膠, 硅膜等.)

5.LEDs, VCSELs

6.數據存(cun)儲

7.陽極處理

8.曲面基底的硬鍍(du)及軟鍍(du)

9.聚(ju)合物膜層, 粘合劑(ji)

10.生物醫學(聚對二甲苯, 生 物膜/氣泡壁厚度.)

11.還有許多…

【Thetametrisis膜厚儀特點】

1、實(shi)時(shi)光譜測量(liang)

2、薄膜厚度(du)，光(guang)學特(te)性，非(fei)均勻性測量， 厚度(du)映射

3、使用集成的，USB連接高品質(zhi)彩色(se)攝像(xiang)(xiang)機進行成像(xiang)(xiang)

【Thetametrisis膜厚儀產(chan)品優(you)勢】

1、單擊即可分析 (無需初(chu)始(shi)預測)

2、動態測(ce)量

3、包(bao)含(han)光(guang)學參(can)數 (n & k, color)

4、可保存測量(liang)演示視頻錄像

5、超過 600 種不同(tong)材料(liao)o 多個離線分(fen)析(xi)配套裝置o 免費(fei)操作軟件升(sheng)級

【技(ji)術參數】

*測量面積(收集反射或透射信號的(de)面積)與顯(xian)微鏡(jing)物鏡(jing)和 FR-uProbe 的(de)孔徑大小有(you)關。

【工(gong)作原理(li)】

*規格(ge)如(ru)有更改，恕(shu)不另(ling)行通知, 測量(liang)(liang)結果與校準的光譜橢偏儀(yi)和 XRD 相比(bi)較, 連續 15 天測量(liang)(liang)的標準方差(cha)平均值。樣品(pin)：1um SiO2 on Si., 100 次厚度測量(liang)(liang)的標準方差(cha)，樣品(pin)：1um SiO2 on Si.

*超過 15 天的(de)標準偏差日平均值(zhi)樣品：1um SiO2 on Si。

以(yi)上資(zi)料來自Thetametrisis，如果有需要更加詳細(xi)的信(xin)息，請聯系我們(men)獲取。