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顯示器薄膜測量儀*的光(guang)學模塊可容納所(suo)有(you)光(guang)學部(bu)件：分光(guang)計、復合光(guang)源(壽命10000小時)、高(gao)精度(du)反(fan)射探頭(tou)。因此，在準確性(xing)、重(zhong)現性(xing)和長(chang)期(qi)穩定性(xing)方面保證了優異的性(xing)能(neng)。

FR-Mic 多層(ceng)膜厚度(du)測試儀是(shi)一款快速(su)、準確測量薄膜表征應(ying)用的模(mo)塊化解決方案，可以將光斑(ban)縮(suo)小(xiao)到(dao)幾(ji)個微米(mi)，進(jin)而分析微小(xiao)區域或者(zhe)粗糙(cao)表面薄膜特征。

硬化涂層膜(mo)厚儀是一款快(kuai)速(su)、準確測(ce)量薄膜(mo)表(biao)(biao)征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如(ru)微圖案表(biao)(biao)面，粗糙表(biao)(biao)面及許(xu)多其他表(biao)(biao)面。

Thetametrisis膜(mo)厚測(ce)量(liang)(liang)儀(yi)FR-pRo是一個模(mo)塊化和(he)可擴展平臺的光學測(ce)量(liang)(liang)設備，用于表征厚度范圍為(wei)1nm-1mm 的涂層(ceng)。

顯示器(qi)薄(bo)膜(mo)測(ce)量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合(he)光源(壽命10000小時(shi))、高精(jing)度(du)反射探頭(tou)。因此，在準確性、重現性和長期(qi)穩(wen)定性方面保證了優異的性能。

FR-InLine 是一(yi)款模塊(kuai)化可擴(kuo)展的(de)在(zai)(zai)線(xian)薄膜(mo)厚(hou)度(du)(du)測(ce)量儀(yi)（膜(mo)厚(hou)儀(yi)），可進行在(zai)(zai)線(xian)非接觸測(ce)量 3nm-1mm 厚(hou)度(du)(du)范圍內(nei)的(de)涂層。 FR-InLine 膜(mo)厚(hou)儀(yi)并可以依據各種不同應用(yong)設置多個參數的(de)實(shi)時測(ce)量，例如：反射率和透(tou)射率光譜、厚(hou)度(du)(du)、色(se)座標。 FR-InLine 膜(mo)厚(hou)儀(yi)測(ce)量軟(ruan)件可以在(zai)(zai)標準 Windws 10/11 中執行。